二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。

A.顺纹抗压

B.横纹抗压

C.顺纹抗拉

D.顺纹抗剪

A、透射电镜

B、X射线衍射线分析

C、紫外可见吸收光谱

D、差热分析

A、TEM，接收透射电子，观察样品的形貌、结构、粒径。

B、SEM，可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。

C、TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。

D、EDS，可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用，分析样品的成分。

A、电子束的穿透力比可见光强

B、电子束可以聚焦成小到几纳米的束斑

C、电子束很容易发生偏转

D、电子束的波长可以很小

A、SEM（配有能谱分析）

B、TEM

C、XRD

D、SAED