题目内容
（请给出正确答案）
A．要求被测设备具有观察窗或非金属屏蔽的部位
B．超高频的下限频率在300MHz以上，因而可把电晕放电引起的干扰排除掉
C．对导体毛刺放电、悬浮放电、内部放电均有效
D．可以用于局部放电源定位
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A．要求被测设备具有观察窗或非金属屏蔽的部位
B． 超高频的下限频率在300MHz以上，因而可把电晕放电引起的干扰排除掉
C． 对导体毛刺放电、悬浮放电、内部放电均有效
D． 可以用于局部放电源定位
A．不受电气干扰的影响
B． 超声法定量分析比较困难
C． 容易受到设备的机械震动的干扰
D． 对绝缘子表面脏污引起的放电有效
A．高频局部放电检测技术
B． 超高频局部放电检测技术
C． 特高频局部放电检测技术
D． 超声波检测技术
A．高频局部放电检测技术
B．超高频局部放电检测技术
C．特高频局部放电检测技术
D．超声波检测技术
A．高频局部放电
B． 超高频局部放电
C． 特高频局部放电
D． 超声波局部放电
A．高频法与脉冲电流法原理接近
B． 超声法容易受现场电晕的干扰
C． 超高频检测频段高是为了避开干扰
D． 超声法和高频法可以联合进行定位
A.不受电气干扰的影响
B.超声法定量分析比较困难
C.容易受到设备的机械震动的干扰
D.对绝缘子表面脏污引起的放电有效
A．高频电检测技术
B． 超高频检测技术
C． 特高频检测技术
D． 超声波检测技术
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