更多“用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数…”相关的问题
第1题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
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第2题
测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?
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第3题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
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第4题
平行平晶检定外径千分尺两工作面的平行度时,为什么要用尺寸依次间隔(0.12~0.13)mm的4块平行平晶检定?
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第5题
使用平行平晶检定外径干分尺工作面的平行度时,应使用()块平行平晶进行测量。
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第6题
测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?
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第7题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
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第8题
用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?
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第10题
用平面平晶测量千分尺测量面的平面度时,产生三条直的、平行的、间距相等干涉条纹,其平面度()。
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