题目内容（请给出正确答案）

[单选题]

X-R Chart控制图相应R Chart的控制下限是否为零与以下哪些因素有关：（）。

A.收集Raw Data组数的多少

B.收集Raw Data计算组内均值的大小

C.收集Raw Data组内样本数的大小

D.收集Raw Data组间样本数的大小

提问人：网友lyh511 发布时间：2022-01-06

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第1题

X-R Chart控制图LCL=-15，UCL=15，则2s警界线的数值是（）。

A.10

B.11

C.12

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第2题

使用 x-R 控制图时，为何要先观察 R 控制图是否在管制状态下？

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第3题

在分析X-R控制图时应（）

A.先分析X图然后再分析R图

B.先分析R图然后再分析X图

C.X图和R图无关，应单独分析

D.以上答案都不对

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第4题

用来测量生产产品的一致性，应该看什么控制图？（）

A.X Chart

B.R Chart

C.S Chart

D.P Chart

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第5题

如果组内样本中其中一个数严重偏离，使用以下哪种控制图可以有效监察到：（）。

A.X Chart

B.R Chart

C.S Chart

D.Trend Chart

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第6题

双边规格如果控制图R Chart上的点逐渐偏于下限，则该工序参数的工序能力（）

A.CPK逐步变大

B.CP逐步变大

C.CPK逐步变小

D.CP逐步变小

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第7题

根据材料，回答下列各题。根据历史数据绘制X-R控制图，子组大小等于5。经计算，X=33.5，R=6.2，查表得A2=0.577，D4=2.115，D3为0。从现场收集一子组，观测数据为38,29,32,31,36。 X图的上下控制限分别为（）。

A.37，30

B.32，25

C.28．24

D.42.40

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第8题

双边规格如果控制图R Chart上的点逐渐偏于下限，则该工序参数的工序能力：（）。

A.CPK逐步变大

B.CP逐步变大

C.CPK逐步变小

D.CP逐步变小

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第9题

做R&R时，用X-R Chart评估测量仪器的实际分辨率是否足够，哪些说法正确：（）。

A.R Chart上的数值出现的机会小于3种

B.R Chart上的数值出现的机会大于3种

C.R Chart上的数值25%以上为零

D.R Chart上的数值25%以下为零

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第10题

测试仪器使用的X-R Chart失控，下列说法哪种正确：（）。

A.设备重复性不稳定导致X Chart失控

B.设备重复性不稳定导致R Chart失控

C.设备偏差发生改变导致X Chart失控

D.设备偏差发生改变导致R Chart失控

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