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[判断题]

THDS（哈科所)红外轴温探测系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。（)

提问人：网友肖文娟 发布时间：2022-03-22
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更多“THDS(哈科所)红外轴温探测系统，双侧元件温度接近环温时，…”相关的问题
第1题
THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定可能是原因造成（）

A.探头温控板

B.磁钢

C.电机

D.热靶

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第2题
THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（）
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第3题
THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板（）

A.热电阻

B.铂电阻

C.碲镉汞光子元件

D.热靶

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第4题
THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是故障（）

A.热靶温控板故障

B.控制板故障

C.温度转换盒故障

D.探头温控板故障

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第5题
THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元温故障，现象是与正常值偏离较大,可能是探头温控板故障（）
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第6题
THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障（）
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第7题
THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障（）
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第8题
THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（）
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第9题
THDS（哈科所）红外轴温探测系统，热敏探头的静态噪声超过80毫伏时应更换探头（）
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第10题
THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（）
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第11题
THDS（哈科所)红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超过150毫伏时应更换探头。（)
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