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[主观题]
提高近表面缺陷的探测能力应从下面三方面着手：①用()探头;②使用()脉冲()频带探头;③()探头频率，()晶片尺寸。
提高近表面缺陷的探测能力应从下面三方面着手：①用（)探头;②使用（)脉冲（)频带探头;③（)探头频率，（)晶片尺寸。
提问人：网友hantuotuo
发布时间：2022-01-07
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