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[单选题]

CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

A.测定斜探头K值

B. 测定直探头盲区范围

C. 测定斜探头分辨率

D. 以上全部

提问人：网友lymsum 发布时间：2022-01-06

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第1题

CSK-1B试块将IIW试块的φ50孔改为φ40，φ44，φ50台阶孔，其目的是（）。

A.测定斜探头K值

B.测定直探头盲区范围

C.测定斜探头分辨力

D.以上全部

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第2题

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

A.测定斜探头K值

B. 测定直探头盲区范围

C. 测定斜探头分辨力

D. 以上全是

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第3题

超声检测中，CSK-IA和IIW试块的主要功能是相同的。（）

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第4题

与IIW试块相比，CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。（）

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第5题

与IIW试块相比，CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。（)

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第6题

超声检测中，CSK－IA和IIW试块的主要功能是相同的。（)

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第7题

与IIW试块相比，CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力（）

A．正确；

B．错误

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第8题

超声检测中，CSK-IA和IIW试块的主要功能是相同的（）

A．正确

B．错误

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第9题

试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？

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