如图所示，G1是用来检验加工件质量的标准件，G2是待测的加工件。它们的端面都经过磨平抛光处理、将G1和G2放置在平台，上，用一光学平板玻璃T盖住，设垂直入射的波长λ= 589.3nm，G1与G2相隔d=0.5cm，T与G1以及T与G2间的干涉条纹的间隔都是0.5mm.求G1与G2的高度差△h。分析:出现干涉条纹，说明两物体不等高;干涉条纹间隔相等，说明两物体的端面平行，此干涉为劈尖干涉。