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[主观题]

采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片

提问人:网友xuming1987 发布时间:2022-01-07
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第1题
在探测厚度较大的工件时,选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷。
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第2题
探测粗糙表面的工件时,为提高声能传递,应选用:()

A. 声阻抗小且粘度大的耦合剂

B. 声阻抗小且粘度小的耦合剂

C. 声阻抗大且粘度大的耦合剂

D. 以上都不是

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第3题
探测粗糙表面的工件时,为了提高声能的传递,应选用()。

A. 任何耦合剂

B. 粘度小的耦合剂

C. 声阻抗大,粘度大的耦合剂

D. 声阻抗小,粘度小的耦合剂

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第4题
探测粗糙表面的工件时,为了提高声能的传递,应选用()
A.任何耦合剂

B.粘度小的耦合剂

C.声阻抗大,粘度大的耦合剂

D.声阻抗小,粘度小的耦合剂

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第5题
小口径钢管超探时探头布置方向为:()

A. 使超声沿周向射入工件以探测纵向缺陷

B. 使超声沿轴向射入工件以探测横向缺陷

C. 以上二者都有

D. 以上二者都没有

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第6题
用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()

A. 尽可能靠近侧壁;

B. 离侧壁10mm;

C. 离侧壁一个探头直径的距离处;

D. 离侧壁二个探头直径的距离处。

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第7题
探伤面的修整应能满足()的扫查。

A. 半次波

B. 一次波

C. 一次半波

D. 二次波

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第8题
射线照相法是利用X、γ射线穿透工件,以()作为记录信息的无损检测方法。

A. 像质计

B. 胶片

C. 评定尺

D. 增感屏

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第9题
较小的探头晶片尺寸发射的超声波束,其远场覆盖面积()。

A. 较大

B. 较小

C. 不变

D. 较窄

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