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[主观题]

CMOS电极引出处必须进行轻掺杂。

提问人:网友he3521 发布时间:2022-01-07
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第1题
为了实现欧姆接触,CMOS电极引出处必须进行
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第2题
【单选题】BJT的内部结构特点如下:()

A.发射区重掺杂,基区很薄且轻掺杂,集电区面积大且掺杂较发射区轻;

B.集电区重掺杂,基区很薄且轻掺杂,发射区面积大且掺杂较集电区轻;

C.基区重掺杂,集电区很薄且轻掺杂,发射区面积大且掺杂较基区轻;

D.发射区重掺杂,集电区很薄且轻掺杂,基区面积大且掺杂较发射区轻。

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第3题
对单边突变结提高雪崩击穿电压主要

A.降低轻掺杂一侧掺杂浓度

B.增加轻掺杂一侧掺杂浓度

C.降低重掺杂一侧掺杂浓度

D.增加重掺杂一侧掺杂浓度

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第4题
逆向掺杂、环绕掺杂、轻掺杂漏技术主要应用于功率器件。
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第5题
使用N型外延层,必须加入深的轻掺杂()型扩散区用于制作NMOS晶体管。A、NB、PC、N或P

使用N型外延层,必须加入深的轻掺杂()型扩散区用于制作NMOS晶体管。

A、N

B、P

C、N或P

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第6题
使用P型外延层,必须加入深的轻掺杂()型扩散区用于制作PMOS晶体管。A、NB、PC、N或P

使用P型外延层,必须加入深的轻掺杂()型扩散区用于制作PMOS晶体管。

A、N

B、P

C、N或P

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第7题
对于单边突变结,

A.耗尽层宽度主要在轻掺杂一侧

B.耗尽层宽度主要在重掺杂一侧

C.内建电势主要降落在轻掺杂一侧

D.内建电势主要降落在重掺杂一侧

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第8题
轻掺杂漏(LDD)
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第9题
晶体管的内部放大条件是:发射区重掺杂,基区轻掺杂且宽度很窄,集电极面积大等。()

晶体管的内部放大条件是:发射区重掺杂,基区轻掺杂且宽度很窄,集电极面积大等。()

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第10题
广告使用数据、统计资料、调查结果、文摘、引用语,应当真实、准确,可表明出处,也可不表明出处。()

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