题目内容
（请给出正确答案）
A.统计过程控制是一种过程质量管理技术
B.统计过程控制是指利用控制图对过程进行实时监控，使过程稳定地处于可接受的水平
C.统计过程控制是一种事后补救的方法
D.统计过程控制所使用的主要工具是控制图
E.统计过程控制的主要目的是确定是否生产出不合格品
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A.统计过程控制是一种过程质量管理技术
B.统计过程控制是指利用控制图对过程进行实时监控，使过程稳定地处于可接受的水平
C.统计过程控制是一种事后补救的方法
D.统计过程控制所使用的主要工具是控制图
E.统计过程控制的主要目的是确定是否生产出不合格品
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，Cp≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态．
A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，
E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品
B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１
C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态
D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动
E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
A.偶然因素是过程所固有的
B.偶然因素在过程中始终存在
C.偶然因素对过程质量影响大
D.偶然因素可以通过质量改进完全消除
E.偶然因素有时存在有时不存在
A.只有在过程处于统计控制状态才能计算
B.Cp仅能用于双侧规范限的情况
C.Cpk可以反映过程中心的偏移
D.一般来说，Cpk不大于Cp
E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
A.原则上，应该用于有数量特征或参数和持续性的所有工艺过程
B.使用领域是小批量生产
C.多数企业，SPC用于生产阶段
D.在强调预防的企业，SPC也应用于开发阶段
A.过程波动具有统计规律性
B.偶然波动是不可避免的
C.当过程中出现异常因素时，过程输出特性的分布将发生改变
D.控制限可以用来区分产品的合格与否
E.控制图是假设检验的一种图上作业方法
A.用于控制过程的不合格品率
B.当每个子组的大小不同时，常规P图的控制限呈凹凸状
C.如果每个子组的大小都等于n，则n越大，控制限越宽
D.统计基础为二项分布
E.当用标准化打点值的方法时，上下控制限为±3
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