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[单选题]

焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（)

A.平行于探测面的缺陷

B.与探测面倾斜的缺陷

C.垂直于探测面的缺陷

D.不能用斜探头检测的缺陷

提问人：网友hantuotuo 发布时间：2022-05-03

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ABCD

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第1题

焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）

A.平行于探测面的缺陷

B. 与探测面倾斜的缺陷

C. 垂直于探测面的缺陷

D. 不能用斜探头检测的缺陷

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第2题

用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷。

A.平行于探测面

B. 与探测面倾斜

C. 垂直于探测面

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第3题

用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷

A．平行于探测面

B．与探测面倾斜

C．垂直于探测面

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第4题

在C级探伤中使用，可用于探测厚焊缝中垂直于表面的竖直面状缺陷，特别是反射面较光滑的缺陷（如窄间隙焊中的未熔合)的双探头扫查方法的是（)

A.串列扫查

B.交叉扫查

C.V形扫查

D.K形扫查

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第5题

直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面()的缺陷。

A.平行

B.垂直

C.倾斜

D.呈90°

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第6题

探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A.聚焦探头B.直探头C.斜探头D.串列双斜探头

探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。

A.聚焦探头

B.直探头

C.斜探头

D.串列双斜探头

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第7题

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。

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第8题

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。（)

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第9题

串列法探伤适用于检测垂直于探测面的平面缺陷。（)

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第10题

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。

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第11题

直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面()的缺陷。

直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面（)的缺陷。

A.平行

B.垂直

C.倾斜

D.呈90°

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