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[主观题]

成组数据假设测验过程中,进行方差同质性F测验,应用较小的均方做分子。

提问人:网友hhhh7139 发布时间:2022-01-06
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第1题
为了解学生是否具备完成教学任务所必需的基本知识和技能而进行的测验是形成性测验()

此题为判断题(对,错)。

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第2题
HF 分子中由H的1 s 轨道与F的1 s 轨道线性组合形成分子轨道()

此题为判断题(对,错)。

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第3题
下面属于提升硬件可靠性的方法是:
A.选优设计:在系统硬件设计和加工时,选用质量好的接插件,设计好工艺结构;选用合格的元器件,进行严格的测试、筛选和老化;设计时技术参数要留有一定的余量或降额使用元器件;提高印制板和组装的质量。

B.冗余与容错设计:在系统中增加适当的冗余单元,以保证当某个部件发生故障时能由冗余部件接替其工作,原部件修复后再恢复出错前的状态。

C.采用硬件抗干扰措施:系统硬件设计采取有效的干扰抑制措施;使用系统监视电路检测系统发生的错误或故障,自动报警或使系统自动恢复正常工作状态。

D.指令冗余:在程序的关键地方人为的插入一些单字节指令,或将有效单字节指令重写,通常是在双字节指令和三字节指令后插入两个字节以上的NOP指令。

E.设计软件“陷阱”:在程序存储器中未使用的EPROM空间填入窄操作指令NOP,最后再填入一条跳转指令,跳转到跑飞处理程序,或者直接填入指令LJMP 0000H。

F.软件“看门狗”:通过不断检测程序循环运行时间,若发现程序循环时间超过最大循环运行时间,则认为系统陷入“死循环”,需要进行出错处理。

G. 检查RAM区标志数据:在RAM区中选择几个固定单元,在初始化程序中将其设置成固定的数据,在程序执行的过程中适时地检查这些RAM单元的内容,一旦发现有数据改变,立刻强制单片机复位。

H. 刷新输出端口:适时地根据相关程序模块的运算结果刷新输出端口,排除干扰对输出端口状态的影响,使错误的输出状态及时得到纠正。

I. 进行多次输入采样:强烈的干扰会影响单片机的输入信号,造成输入信号瞬间采样的误差或误读,要避免干扰的影响,通常采取重复采样,加权平均的方法。

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第4题
点二列相关可用来评价测验中选择题得分与测验总成绩之间是否具有一致性。()

此题为判断题(对,错)。

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第5题
数据集成将多个数据库中的数据进行合并处理,解决语义模糊性,处理数据中的()和坏数据
A.遗留

B.遗漏

C.遗憾

D.经济

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第6题
成对数据各供试单位彼此是独立的。
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第7题
成对数据的比较较成组数据具有更高的精确度。( )
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第8题
统计假设测验的第一类错误犯错误的概率为( )

A、image.png

B、image.png

C、image.png

D、image.png

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第9题
拟合优度测验的自由度=k-1。( )
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第10题
拟合优度测验分组数最好在( )组以上。

A、5

B、6

C、7

D、8

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