更多“上芯后兰膜的检查目的是为了防止()问题的发生”相关的问题
第1题
上芯后兰膜的检查目的是为了预警崩单晶、翘片、沾污、漏芯片。()
点击查看答案
第2题
上芯后兰膜的检查目的是为了预警(崩单晶翘片沾污、漏管芯。()
点击查看答案
第3题
三点一线校准不到位可能造成以下()异常。
点击查看答案
第4题
三点一线校准不到位可能造成沾污、粘歪、崩单晶、翘片。()
点击查看答案
第5题
三点一线校准不到位不可能造成以下哪个异常()。
点击查看答案
第6题
上芯后兰膜检查项目有()。
A.顶针孔位置是否位于芯片中心
B.顶针孔是否有顶破兰膜,造成兰膜缺损
C.多顶针系统顶针印痕迹轻重程度是否一致
D.兰膜上是否有硅渣及背崩残留
E.背金属晶圆是否有背金属脱落现象
点击查看答案
第7题
目前,AD828设备在芯片捡拾部位,加装有一路压缩空气吹气装置,其是预防芯片()的一种有效改善装置。
点击查看答案
第8题
兰膜上背崩可能由以下哪些因素引起()
兰膜上背崩可能由以下哪些因素引起()
A、划片切割参数异常
B、上芯粘片参数异常,传送过程不当
点击查看答案
第9题
上芯后兰膜上顶针痕迹与芯片中心不对应,有偏移为不良。()
点击查看答案
第10题
三点一线校准不到位不可能造成以下()异常。
点击查看答案
第11题
上芯后兰膜检查频次为()。
A.1次/更换晶圆
B.1次/更换产品
C.1次/更换客户
D.1次/更换封装形式
点击查看答案