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[判断题]

纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波低,远离侧壁探测时回波高。()

提问人:网友sulynn 发布时间:2022-01-06
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[244.***.***.112] 1天前
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[152.***.***.135] 1天前
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[226.***.***.1] 1天前
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[191.***.***.133] 1天前
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[3.***.***.36] 1天前
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[157.***.***.138] 1天前
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第1题
纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时(),远离侧壁探测时()。
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第2题
纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。
纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

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第3题
纵波垂直法探伤中,由于()的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。

A.侧壁干涉

B.波的叠加

C.波的绕射

D.波的衍射

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第4题
纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响()。
纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响()。

A、影响缺陷的定量

B、影响缺陷的定位

C、影响缺陷的定量、定位

D、检测结果评级的影响

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第5题
带有塑料斜楔的探头可用于:()

A.双晶片垂直法探伤

B.斜射法探伤

C.纵波垂直法探伤

D.上述三者都可

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第6题
带有斜楔的探头可用于()。
带有斜楔的探头可用于()。

A.垂直法探伤

B.斜射法探伤

C.纵波垂直法探伤

D.反射法探伤

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第7题
带有斜楔的探头可用于()。A.双晶片垂直法探伤B.斜射法探伤C.纵波垂直法探伤D.反射法探伤

带有斜楔的探头可用于()。

A.双晶片垂直法探伤

B.斜射法探伤

C.纵波垂直法探伤

D.反射法探伤

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第8题
水中的纵波声速约为钢或铝中纵波声速的四之一,因此水浸法垂直探伤的水层距离最小应为()

A、试件厚度的四倍

B、试件厚度的0.5倍

C、试件厚度的1/4加上6mm

D、试件厚度的1/4

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第9题
纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波又无底波,这是由于试件中存在()

A.与探测面平行的大缺陷

B.与探测面垂直的大缺陷

C.与探测面倾斜的大缺陷

D.以上都可能

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第10题
小口径钢管采用水浸聚焦探头检验时,属于纵波垂直法探伤。()
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