题目内容
(请给出正确答案)
[判断题]
纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波低,远离侧壁探测时回波高。()
提问人:网友sulynn
发布时间:2022-01-06
A、影响缺陷的定量
B、影响缺陷的定位
C、影响缺陷的定量、定位
D、检测结果评级的影响
带有斜楔的探头可用于()。
A.双晶片垂直法探伤
B.斜射法探伤
C.纵波垂直法探伤
D.反射法探伤
A.与探测面平行的大缺陷
B.与探测面垂直的大缺陷
C.与探测面倾斜的大缺陷
D.以上都可能
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