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[单选题]
半导体表面达到强反型以后,随外加电压的增加,耗尽层宽度()。
A.增加
B.不变
C.减小
D.无法判断
提问人:网友bnuwenzi
发布时间:2022-01-07
A.增加
B.不变
C.减小
D.无法判断
B、空穴,由漏端到源端
C、电子,由源端到漏端
D、电子,由漏端到源端
B、空间电荷区宽度最大时,强反型区的电子或空穴会屏蔽表面电场
C、空间电荷区宽度达到最大值后,表面势的变化不会引起空间电荷区宽度的变化
D、对于n型,外加电压VG>0并逐渐增大时,空间电荷区宽度逐渐增大直至达到最大值
B、若金属相比半导体的功函数较小,二者功函数之差越大时,n沟增强型MOSFET的开启电压就越小
C、衬底掺杂浓度越高,沟道越容易进入强反型状态
D、氧化层厚度增加,阈值电压增加
B、上,耗尽或反型,上,积累
C、上,积累,上,耗尽或反型
D、下,积累,下,耗尽或反型
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