题目内容
(请给出正确答案)
[单选题]
MOSFET的饱和区漏极电流ID 随 VDS 的增大而略有增大,是由于什么原因引起的:()。
A.基区宽度调变效应
B.漏区静电场对沟道的反馈
C.有效沟道调制效应
D.阈电压的短沟道效应
提问人:网友aa00xx
发布时间:2022-01-07
A.基区宽度调变效应
B.漏区静电场对沟道的反馈
C.有效沟道调制效应
D.阈电压的短沟道效应
为了保护您的账号安全,请在“简答题”公众号进行验证,点击“官网服务”-“账号验证”后输入验证码“”完成验证,验证成功后方可继续查看答案!