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[主观题]

X线穿过均匀物质时,与其衰减无关的因素是A.物质的衰减系数B.X线经过的距离C.X线发出的强度D.物质

X线穿过均匀物质时,与其衰减无关的因素是

A.物质的衰减系数

B.X线经过的距离

C.X线发出的强度

D.物质的厚度

E.物质的面积

提问人:网友yangyiha 发布时间:2022-01-07
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第1题
连续X射线穿透物质后,强度减弱,线质不变。
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第2题
CT图像可以用组织对X线的( )来量化其密度的高低?

A、CT值

B、衰减系数

C、增强系数

D、强度

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第3题
特征X射线强度与下列哪些因素有关

A、管电流

B、管电压

C、特征激发电压

D、原子序数

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第4题
单能X线的衰减规律说法正确的是:

A、量随厚度的增加而减少

B、量随厚度的增加不变

C、质随厚度的增加而变硬

D、质不变

E、质随厚度的增加而变软

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第5题
以下关于衰减系数的说法错误的是()

A. 常用衰减系数μ来表征射线强度减弱的快慢

B. 物质原子序数越大,衰减系数越大

C. 对于同一种物质,射线能量不同时衰减系数是相同的

D. 射线能量越高,衰减系数越小

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第6题
X射线的衰减系数与()有关。
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第7题
能将X线直接转换成电子信号的材料是

A、溴化银

B、碘化绝

C、非晶硒

D、非晶硅

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第8题
决定増感屏性能的主要是

A、保护层

B、反射层和吸收层

C、荧光体层

D、片基层

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第9题
属于DR成像直接转换方式的是

A、非晶硒平扳探测器

B、碘化铯+非晶硅平扳探测器

C、闪烁体+CCD摄像机阵列

D、硫氧化钆:铽+非晶硅平板探测器

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第10题
非晶硒与非晶硅平板探测器本质区别是

A、信号输出方式不同

B、图像重建方法不同

C、图像矩阵大小不同

D、光电转换过程不同

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