题目内容（请给出正确答案）

[主观题]

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（)。

A、球面干涉

B、等倾干涉

C、等厚干涉

提问人：网友douliyoutang1 发布时间：2022-01-06

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第1题

若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（)。

A、用刀口尺以光隙法检定

B、用平晶的技术光波干涉法检定

C、用刀口尺以量块比较法检定

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第2题

在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（)。

A、0.001mm

B、0.002mm

C、0.003mm

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第3题

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（)。

A.球面干涉

B.等倾干涉

C.等厚干涉

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第4题

长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（)。

A.用刀口尺以光隙法检定

B.用平晶以技术光波干涉法分段检定

C.用自准直仪以节距法检定

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第5题

长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。

A.用刀口尺以光隙法检定

B. 用平晶以技术光波干涉法分段检定

C. 用自准直仪以节距法检定

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第6题

用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？

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第7题

用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（)。

A、球面干涉

B、等厚干涉

C、等倾干涉

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第8题

用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。

A.干涉条纹尽量少

B. 2条或4条

C. 3条或5条

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第9题

用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（)面

A.平

B.球

C.波形

D.倾斜

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