题目内容
（请给出正确答案）
A.当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入σ对底片对比度进行修正
B.σ值越小，几何条件对底片对比度的影响越大
C.为提高σ而改变透照布置，常用的方法是增大焦距
D.为提高底片对比度，应尽量采用σ＞1的透照布置
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A.当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入σ对底片对比度进行修正；
B. σ值越小，几何条件对底片对比度的影响越大；
C. 为提高σ而改变透照布置，常用的方法是增大焦距；
D. 为提高底片对比度，应尽量采用σ>1的透照布置。
A.d′值与df成正比
B. d′值与L1、L2成反比
C. d′小于缺陷宽度W时，底片上缺陷影象有本影，对比度根据缺陷形状进行修正
D. d′大于缺陷宽度W时，底片上缺陷影象无本影，对比度急剧下降
A.影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现
B.影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察
C.形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低
D.以上都不是
A.影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现
B. 影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察
C. 形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低
D. 以上都不是
A、若出现缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大
B、无底波时，说明钢板无缺陷
C、钢板中不允许存在的缺陷尺寸应采用当量法测定
D、钢板探伤应尽量采用低频率
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