题目内容
（请给出正确答案）
A、在显著性水平
下，检验假设
，称为双侧检验
B、右侧检验和左侧检验统称为单侧检验
C、在显著性水平下，检验假设
，称为左侧检验
D、在显著性水平下，检验假设，称为右侧检验
E、在显著性水平下，检验假设
，称为右侧检验
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A、单侧检验优于双侧检验
B、采用配对t检验还是成组t检验是由实验设计方法决定的
C、检验结果若P值大于0.05，则接受H0犯错误的可能性很小
D、用U检验进行两样本总体均数比较时，要求方差齐性
E、以上均不正确
A．单侧检验效率优于双侧检验
B．用配对t检验还是成组t检验是由实验设计方法决定的
C．P值＞0.05，则接受H0犯错误的可能性很小
D．p值＞0.05，则接受H0犯错误的可能性很大
E．进行两样本均数u检验时，两样本均要求大
B．我们做假设检验一定会犯错误
C．假设检验可以看作带有概率性质的反证法
D．对同一总体进行假设检验多次得出的统计结论一定时一致的
B．第一类错误被称为纳伪错误
C．第二类错误是原假设不正确，但却被接受的错误
D．第一类错误是原假设正确，但却被拒绝的错误
A、如果拒绝的是真的
，就可能犯弃真(第一类)错误，一般犯弃真错误的概率记为。
B、如果接受的是不真的，就可能会犯取伪(第二类)错误，犯取伪错误的概率记为
。
C、在样本容量
固定的条件下，要使，同时减小是不可能的。
D、在样本容量固定的条件下，当增大时，将随之减小；当减小时，要增大。
E、增大样本容量可以使，同时减小。
为100小时，标准差为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件，测得平均寿命为102小时，给定显著性水平=0.05。为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高，下列说法正确的有( )。
A、提出假设
B、提出假设
C、检验统计量及所服从的概率分布为
D、如果
，则称样本均值
与的差异是显著的，这时拒绝
E、检验结果认为该类型的电子元件的使用寿命确实有显著提高
A、根据实际问题的要求，提出原假设及备择假设；
B、确定检验统计量，并找出在假设成立条件下，该统计量所服从的概率分布；
C、根据所要求的显著性水平和所选取的统计量，查概率分布临界值表，确定临界值与拒绝域；
D、将样本观察值代入所构造的检验统计量中，计算出该统计量的值；
E、判断计算出的统计量的值是否落入拒绝域，如落入拒绝域，则拒绝原假设，否则接受原假设。
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