以石膏为粘合剂,并含有在254nm紫外光下显荧光的层析硅胶的表示方法为()。
A.硅胶H
B. 硅胶HF254
C. 硅胶G
D. 硅胶GF254
E. 硅胶F254
A.硅胶H
B. 硅胶HF254
C. 硅胶G
D. 硅胶GF254
E. 硅胶F254
A.硅胶G为不含粘合剂的硅胶,铺板时需另加粘合剂。
B.硅胶GF254不含粘合剂而含有一种无机荧光剂。
C.硅胶H是硅胶和煅石膏混合而成的。
D.用含荧光剂的吸附剂制成的荧光薄层板可用于本身不发光且不易显色的物质的研究。
E.氧化铝G的粒径应为5~40μm。
盐酸黄酮哌酯有关物质的检查:以三氯甲烷-甲醇(1:1)为溶剂,制备浓度为20 mg/ml的供试品溶液;精密量取适量,用溶剂稀释成浓度为0.10 mg/ml的溶液作为对照溶液;另取3-甲基黄酮-8-羧酸对照品,制成浓度为0.10 mg/ml的溶液作为对照品溶液。吸取上述三种溶液各10μl,分别点于同一硅胶GF254薄层板①上,以环己烷-乙酸乙酯-甲醇-二乙胺(8:2:2:1)为展开剂②,经展开和紫外光灯(254nm)下斑点定位③。供试品溶液如显杂质斑点不得多于2个,其中在与对照品溶液相同的位置上所显杂质斑点的颜色与对照品溶液的主斑点比较,不得更深④,另一杂质斑点颜色与对照溶液的主斑点比较,不得更深⑤。①硅胶GF254薄层板有何特点?(2分) ②展开剂中添加二乙胺的作用?(2分) ③在紫外光灯(254nm)下进行斑点定位的可能情况?(4分) ④这是哪种TLC检查杂质的哪种方法?杂质限度是多少?(4分) ⑤这是哪种TLC检查杂质的哪种方法?杂质限度是多少?(4分)
A.这种硅胶通过了F254检验
B.制造厂的标号
C.硅胶中配有在紫外光254nm波长照射下产生荧光的物质
D.含吸收254nm紫外光的物质
E.这种硅胶制备的薄层板在254nm紫外光照射下有绿色荧光背景
薄层色谱法中所用硅胶GF254,其中F254代表:
A.这种硅胶通过了F254检验
B.这种硅胶制备的薄层板在254nm紫外光照射下有绿色荧光背景
C.硅胶中配有在紫外光254nm波长照射下产生荧光的物质
D.含吸收254nm紫外光的物质
E.B+C
A.能与Molisch试剂呈阳性反应
B.能与Liebermann-Burchard试剂呈阳性反应
C.在254nm紫外光下有强吸收
D.在13C-NMR波谱图上可见羧基信号峰
A.能与Molish试剂呈阳性反应
B.能与Liebermann-Burchard试剂呈阳性反应
C.在254nm紫外光下有强吸收
D.在13CNMR波谱图上可见羧基信号峰
E.水溶液有发泡性质
A.提取、浓缩、薄层分离:365nm紫外光
B.提取、浓缩、薄层分离:254nm紫外光
C.薄层分离、提取、浓缩:540nm可见光
D.薄层分离、提取、浓缩:365nm紫外光
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