题目内容
（请给出正确答案）
[单选题]
用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。
A.无缺陷
B. 有规则的缺陷
C. 有小缺陷
D. 以上均不是
提问人：网友lucky_lilac
发布时间：2022-01-06
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B.有规则的缺陷
C.有小缺陷
D.以上均不是
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第6题
用探测面为平面的对比试块中∮2 mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个 探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量（）
A.等于∮2mm平底孔
B.比∮2mm平底孔大
C.比∮2mm平底孔小
D.不小于∮2mm平底孔
第7题
用探测面为平面的对比试块中φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量（）
A.等于f 2mm平底孔
B.比f 2mm平底孔大
C.比f 2mm平底孔小
D.不小于f 2mm平底孔
第8题
在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量（)
A、等于Φ2mm平底孔
B、比Φ2mm平底孔大
C、比Φ2mm平底孔小
D、大于等于Φ2mm平底孔
第10题
在用AVG方法校正直探头的探伤灵敏度时，被选用的底面应满足以下要求：①应与探测面平行；②其表面应平整光洁；③探头离试件边缘的各向尺寸应≥4（λ·δ)1／2；④不与其他透声物质和吸声物质相接触（)
