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[判断题]

在用AVG方法校正直探头的探伤灵敏度时,被选用的底面应满足以下要求:①应与探测面平行;②其表面应平整光洁;③探头离试件边缘的各向尺寸应≥4(λ·δ)1/2;④不与其他透声物质和吸声物质相接触()

提问人:网友sulynn 发布时间:2022-03-14
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第1题
双探头K型探伤方法适用于的工件()

A.上下表面平行

B.左右表面平行

C.两个表面都可作为探测面

D.探测面倾斜

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第2题
铁路客货车零部件磁粉探伤系统灵敏度校验,粘贴试片时,,试片粘贴牢固、平整,粘贴物不得纸遮盖试片刻槽部位()

A.试片刻槽面应与零部件表面密贴,“+”刻槽中应有一条刻槽与被探测零部件的中心线平行

B.试片表面应与零部件表面密贴,“+”刻槽中应有一条刻槽与被探测零部件平行

C.试片“+”刻槽中应有一条刻槽与被探测零部件的中心线平行

D.以上三项都不准确

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第3题
在平整光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头,因为这样()

A.虽然耦合损耗大,但有利于减小工件中噪声

B.脉冲窄,探测灵敏度高

C.探头与仪器匹配较好

D.以上都对

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第4题
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()

A.平行且靠近探测面

B.与声束方向平行

C.与探测面成较大角度

D.平行且靠近底面

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第5题
接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

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第6题
垂直探伤时,工件探测面与底面不平行,底波将()或()
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第7题
在何种情况下,锻钢件超声波检测需要使用对比试块调节探测灵敏度?()

A.厚度大于等于三倍近场长度,工件表面光洁度大于等于3.2μm,探测面与底面平行

B. 厚度大于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面平行

C. 厚度小于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面不平行

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第8题
在用直探头进行水浸法探伤时,探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次()

A.缺陷回波

B. 迟到回波

C. 底面回波

D. 侧面回波

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第9题
用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。

A.无缺陷

B.有规则的缺陷

C.有小缺陷

D.以上均不是

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第10题
用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。

A.无缺陷

B. 有规则的缺陷

C. 有小缺陷

D. 以上均不是

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