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[主观题]

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法是()

A、斜射法

B、水浸法

C、接触法

D、穿透法

提问人:网友douliyoutang1 发布时间:2022-07-08
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第1题
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。A.斜射法B.水浸法C.接触法D.穿透法

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。

A.斜射法

B.水浸法

C.接触法

D.穿透法

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第2题
试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷,能有效发现该缺陷的探伤方法是()

A.单探头法

B.斜探头法

C.双晶片直射法

D.串列式探伤

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第3题
超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是()。

A.晶片与探测面接触时就不会产生振动

B.排除探头与探测面间的空气

C.润滑接触面,尽量减小探头的磨损

D.使探头可靠的接触

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第4题
接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

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第5题
所谓垂直法,就是晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入被检材料的检验方法()
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第6题
超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是()。

A、润滑接触面,尽量减少探头的磨损;

B、排除探头与探测面间的空气;

C、晶片与探测面直接接触时就不会产生振动;

D、使探头可靠地接触;

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第7题
超声波探伤时施加耦合剂的主要目的是()

A、润滑接触面尽量减少探头磨损

B、排除探头与探测面间的空气

C、晶片与探测面直接接触时就不会振动

D、使探头可靠地接地

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第8题
探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。()此题为判断题(对,错)。
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第9题
晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

A.垂直法

B.斜射法

C.表面波法

D.K型扫查

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第10题
晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进人被探材料的检验方法称为()

A.直射法

B.斜射法

C.表面波法

D.以上均不正确

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第11题
晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做()。

A、垂直法

B、斜射法

C、表面波法

D、水平法

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