题目内容
(请给出正确答案)
[单选题]
客观性颗粒质量-颗粒度的最常用测量方法是()。
A.分区域统计
B.几何学统计
C.康普顿效应
D.频谱法测量
E.RMS颗粒和威纳频谱
提问人:网友欧阳灿
发布时间:2022-08-05
A.分区域统计
B.几何学统计
C.康普顿效应
D.频谱法测量
E.RMS颗粒和威纳频谱
A.主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况
B.客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况
C.常用的检测方法有RMS的测量
D.常用的检测方法有维纳频谱的测量
E.MTF用来测量颗粒度
关于X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是
A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况
B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况
C.常用的检测方法有RMS的测量
D.常用的检测方法有维纳频谱的测量
E.MTF用来测量颗粒度
关于胶片颗粒性及颗粒度的描述,错误的是
A.胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一
B.胶片经曝光、显影加工后,形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性
C.表示颗粒性的量度值为颗粒度
D.颗粒度小的胶片,照片影像细腻、清晰度高
E.颗粒度主要受量子斑点的影响,而与增感屏的结构斑点无关
关于X线照片颗粒度的叙述,错误的是
A.物理测定值为颗粒度
B.X线量子斑点影响照片颗粒性
C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声
D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素
E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录
所谓X线照片噪声,是指
A.乳剂银颗粒
B.荧光体颗粒
C.银颗粒、荧光体颗粒组合
D.X线照片的颗粒度
E.X线照片斑点
所谓X线照片噪声,是指
A、荧光体颗粒
B、乳剂银颗粒
C、荧光体颗粒组合
D、X线照片斑点
E、X线照片的颗粒度
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