关于X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质
关于X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是
A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况
B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况
C.常用的检测方法有RMS的测量
D.常用的检测方法有维纳频谱的测量
E.MTF用来测量颗粒度
关于X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是
A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况
B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况
C.常用的检测方法有RMS的测量
D.常用的检测方法有维纳频谱的测量
E.MTF用来测量颗粒度
A.主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况
B.客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况
C.常用的检测方法有RMS的测量
D.常用的检测方法有维纳频谱的测量
E.MTF用来测量颗粒度
关于X线照片颗粒度的叙述,错误的是
A.物理测定值为颗粒度
B.X线量子斑点影响照片颗粒性
C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声
D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素
E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录
A.物理测定值为颗粒度
B.X线量了斑点影响照片颗粒性
C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声
D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素
E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
A.物理测定值为颗粒度
B.X线量子斑点影响照片颗粒性
C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声
D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素
E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
A.物理测定值为颗粒度
B.X线量子斑点影响照片颗粒性
C.X线照片上颗粒聚集的区域,称噪声
D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素
E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片E记录
A.是威纳频谱英文的缩写
B.是测量照片颗粒性的一种方法
C.在影像学中以空间频率为变量的函数
D.可分析出形成X线照片斑点原因及所占比例
E.空间频率增加,量子斑点与照片斑点比例均增加
A.是威纳频谱英文的缩写
B.是测量照片颗粒性的一种方法
C.在影像学中以空间频率为变量的函数
D.可分析出形成X线照片斑点原因及所占比例
E.空间频率增加,量子斑点与胶片斑点比例均增加
A.清晰度——影像重建组织细节的可见度
B.分辨率是清晰度的测定方法之一
C.MTF=0,表示影像能完全重建
D.响应函数——测量不同空间频率下幅度的衰减
E.量子斑点是X线照片斑点产生的最大因素
关于X线照片影像形成的叙述,错误的是
A、X线被照体吸收与散射后经屏/片体系转换形成
B、利用了X线透射线的直进性
C、透过被照体的透射线和散射线形成照片影像
D、照片接受的散射线不形成影像
E、利用了X线的穿透性
为了保护您的账号安全,请在“简答题”公众号进行验证,点击“官网服务”-“账号验证”后输入验证码“”完成验证,验证成功后方可继续查看答案!