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[单选题]

下面哪种方式无法减少pn结的扩散电容:()。

A.减小少子寿命

B.减小结面积

C.减小掺杂浓度

D.减小正向直流偏压

提问人:网友陈银桑 发布时间:2022-01-07
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匿名网友 选择了B
[223.***.***.39] 1天前
匿名网友 选择了B
[39.***.***.20] 1天前
匿名网友 选择了B
[31.***.***.11] 1天前
匿名网友 选择了B
[103.***.***.196] 1天前
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[228.***.***.134] 1天前
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[146.***.***.205] 1天前
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第1题
以下关于PN结电容说法正确的是

A.正向偏压增大时,势垒电容减小;

B.正向偏压增大时,扩散电容减小;

C.反向偏压增大时,势垒电容减小;

D.势垒电容是一种固定电容。

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第2题
下列说法中,哪一项不是对PN结空间电荷区充电()。

A.PN结外加正向偏压增大

B.PN结外加反向偏压减小

C.使空间电荷区势垒宽度减小

D.使电子和空穴从空间电荷区流入两侧半导体中

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第3题
关于PN结电流,说法不正确的是

A.PN结正向电流是以多子注入形成的电流为主

B.PN结反向电流属于少子电流,受温度影响大

C.PN结正向电压增大,电流会随之增加

D.PN结反向电压变大,电流会随之减小

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第4题
当PN结加正向电压(正向偏置)时,PN结内电场减小。()
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第5题
提高特征频率fT的主要技术途径包括:

A.减小发射结面积AE;

B.减小集电结面积AC;

C.减小基区宽度xB;

D.减小集电区掺杂浓度NC;

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第6题
下面哪种措施不能提高双极型晶体管的开关速度:()。

A.减小集电区的掺杂浓度

B.在集电区引入产生-复合中心

C.减小集电区宽度

D.减小基区宽度

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第7题
向半导体中掺金,会使

A.复合几率增加,少子寿命增加

B.复合几率减小,少子寿命增加

C.复合几率增加,少子寿命缩短

D.复合几率减小,少子寿命缩短

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第8题
向PN结中掺金,可以

A.减少复合,使PN结开关速度增加

B.减少复合,使PN结开关速度减小

C.加大复合,使PN结开关速度增加

D.加大复合,使PN结开关速度减小

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第9题
PN结处于正向偏置时,耗尽区的宽度减小。
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