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第1题
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变,容易造成探头碲镉汞器件的灵敏率()
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第2题
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板()
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第3题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。()
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第4题
THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整,具有种调整制冷方式()
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第5题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。()
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第6题
THDS-B(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差()
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第7题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。()
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第8题
THDS-B(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关()
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第9题
器件温度不稳定或有跳变,容易造成探头器件的()发生变化。
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第10题
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定可能是原因造成()
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第11题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统,热敏探头的静态噪声超过80毫伏时应更换探头()
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