题目内容（请给出正确答案）

[主观题]

目前国内外广泛采用()测量半导体硅单晶电阻率。

目前国内外广泛采用（)测量半导体硅单晶电阻率。

A.两探针法

B.四探针法

C.扩展电阻法

D.范德堡法

提问人：网友wh139634 发布时间：2022-04-18

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第1题

常用的电阻率的测试方法是

A.热探针法

B.四探针法

C.三探针法

D.范德堡法

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第2题

确定单晶硅导电类型的方法是

A.四探针法

B.热探针法

C.范德堡法

D.磨角法

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第3题

少数载流子寿命测试方法是

A.四探针法

B.热探针法

C.光电导衰减法

D.范德堡法

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第4题

制备单晶硅的方法有

A.直拉法

B.悬浮区熔法

C.四探针法

D.范德堡法

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第5题

单晶硅棒的电阻率测量可采用（）法。

A.四探针法

B.热探针法

C.光电导衰减法

D.色差法

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第6题

扩散工艺中杂质浓度分布的测量可以采用（)法测试。

A.四探针法

B.C-V法

C.热探针法

D.磨角染色法

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第7题

常用的电阻率的测试方法是

A.热探针法

B.四探针法

C.磨角法

D.滚槽法

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第8题

单晶硅的电阻率测试可采用两探针法和四探针法。（)

此题为判断题(对，错)。

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第9题

常用的电阻率的测试方法是

A.热探针法

B.三探针法

C.四探针法

D.少数载流子寿命测试方法是

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第10题

单晶硅的导电类型的测试可采用（)法。

A.热探针法

B.二探针法

C.四探针法

D.光电导衰减法

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第11题

电类型测量的具体方法（），三探针法，四探针法，

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