题目内容
(请给出正确答案)
[主观题]
原子层淀积(ALD)是利用反应气体与基板之间的气-固反应来完成薄膜淀积或外延生长的技术。
提问人:网友devillove
发布时间:2022-01-07
外延层的迁移率低的因素有原材料纯度();反应室漏气;外延层的晶体();系统沾污等;载气纯度不够;外延层晶体缺陷多;生长工艺条件不适宜。
A、等离子体增强化学气相淀积(PECVD)是目前最主要的化学气相淀积系统,低温淀积是其最主要优点。
B、低压化学气相淀积系统(LPCVD)淀积的某些薄膜,在均匀性和台阶覆盖等方面比APCVD系统的要好,而且污染也少。
C、做CVD淀积钨时,采用六氟化钨WF6作为气体源,六氟化钨能 与衬底窗口处的硅反应,而不与二氧化硅、氮化硅反应, 所以钨可以选择性地沉积在硅接触窗口中。
D、LPCVD不能淀积二氧化硅薄膜。
A.降低外延生长的温度
B.衬底背面用高纯硅或二氧化硅覆盖
C.用两步外延法
D.低压外延法
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