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[判断题]

在UT中双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。()

提问人:网友王静平 发布时间:2022-08-30
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第1题
双晶探头主要应用于近表面缺陷的探测。()
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第2题
双晶超声波探头直盲区短,主要用于检测近表面缺陷。()
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第3题
双晶探头用于探测工件()缺陷。

A.近表面

B. 表面

C. 内部

D. 平面形

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第4题
双晶超声波探头直盲区短,主要用于检测近表面缺陷。()
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第5题
双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。()
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第6题
双晶直探头的最主要用途是()。

A.探测近表面缺陷

B.精确测定缺陷长度

C.精确测定缺陷高度

D.用于表面缺陷检测

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第7题
在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
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第8题
检验近表面缺陷时,最好选用联合双晶探头。()
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第9题
检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。()
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第10题
检验近表面缺陷最有效的方法是采用收发联合双晶探头。()
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第11题
表面波探头用于探测工件()缺陷。

A.近表面

B. 表面

C. 内部

D. 平面形

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