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[主观题]

在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

提问人：网友swimming8243 发布时间：2022-01-06

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第1题

在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？

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第2题

在超声波探伤中，斜探头主要用于探测与探测面（）缺陷

A.垂直

B.纵向裂纹

C.成一定角度的缺

D.轨底横向裂纹

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第3题

超声波探伤中，斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷（）

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第4题

在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。

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第5题

在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（)。

A.直射

B.扫查

C.反射

D.折射

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第6题

在工业设备的各种无损探伤方法中，（)可以探测工件内部的缺陷，主要用于检验焊缝中有无气孔、夹渣、裂纹、未焊透等缺陷。

A.超声波探伤

B.磁粉探伤

C.荧光探伤

D.着色探伤

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第7题

在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。

A.直射

B. 扫查

C. 反射

D. 折射

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第8题

双晶探头用于探测工件（）缺陷。

A.近表面

B. 表面

C. 内部

D. 平面形

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第9题

在工业设备的各种无损探伤方法中，（）可以探测工件内部的缺陷，主要用于检验焊缝中有无气孔、夹渣、裂纹、未焊透等缺陷。

A. 超声波探伤

B. B.磁粉探伤

C. C.荧光探伤

D. D.着色探伤

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第10题

在UT中双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。（）

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