上芯在进行顶针痕迹项目检查时，必须在()以上显微镜下进行确认

A、上芯顶针痕迹检查频次为1次/批

B、在100X显微镜下检查顶针痕迹时，如果顶针痕迹不清晰，未造成明显的不良，则判定为合格

C、MOSFET产品在100X显微镜下检查时，如有顶针印记，则判断为不良

D、在监控顶针痕迹时，必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控，不允许使用镊子从兰膜上直接夹取

此题为判断题(对，错)。

此题为判断题(对，错)。

此题为判断题(对，错)。

A、薄壁细胞中含有草酸钙方晶

B、果皮表皮细胞呈多角形，表面有微细角质线纹，随处可见类圆形或多角形的油细胞，其四周有6～7个细胞围绕

C、具油管碎片，内含红棕色物质

D、石细胞成群，多角形或稍长，大小均匀，壁厚，胞腔小；或大小不一，壁较薄，胞腔较具细密的壁孔

E、胚乳细胞含脂肪油滴

此题为判断题(对，错)。

此题为判断题(对，错)。

高倍检验时如发现吸嘴磨损，对更换吸嘴之前所加工的产品在100X以上显微镜下对框架的左中右位置各抽检10颗产品，确认有无压伤情况，如无压伤情况，在旧吸嘴检查及异常追溯确认栏中填写追溯检验情况，产品安排流通。()

此题为判断题(对，错)。