更多“THDS(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头元件工作温度应该…”相关的问题
第1题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。()
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第2题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头的动态噪声超过150毫伏时应更换探头。()
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第3题
THDS-B(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关()
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第4题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。()
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第5题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统,热敏探头的静态噪声超过80毫伏时应更换探头()
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第6题
THDS-A(哈科所)红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的()
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第7题
THDS-A(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头的静态噪声超过100毫伏时应更换探头()
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第8题
THDS-A(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头的动态噪声超过150毫伏时应更换探头()
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第9题
THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板()
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第10题
THDS(哈科所)红外轴温探测系统,元件温度不稳定或有跳变,容易造成探头碲镉汞器件的响应率稳定。()
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