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[主观题]

CMP是一种表面()的技术,它通过硅片和一个抛光头之间的相对运动来平坦化硅片表面,在硅片和抛光头之间有(),并同时施加()。

提问人:网友tophqu 发布时间:2022-01-07
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第1题
下面关于化学机械抛光技术CMP的叙述正确的选项是()。

A.平坦化不同的材料,各种各样的硅片表面能被平坦化

B.在同一次抛光过程中对平坦化多层材料有用

C.能获得全局平坦化

D.由于减小了表面起伏,从而能改善金属台阶覆盖

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第2题
CMP工艺中,借助于机械力将硅片表面经化学反应后产生的物质去除的是
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第3题
为了去除表面的杂质、缺陷,进一步去除硅片表面微量的损伤层,需要进行的工艺是

A.倒角

B.磨片

C.化学腐蚀

D.CMP

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第4题
化学机械抛光的平整度是指CMP抛光去除台阶的高度与抛光之前台阶的高度之比,它描述了硅片表面的起伏变化情况。()

此题为判断题(对,错)。

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第5题
CMP是一种减薄层材料的工艺并能去除表面缺陷的平坦化技术。()
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第6题
CMP工艺中的片内非均匀性用来衡量一个单独硅片上膜层厚度的变化量,通过测量硅片上的多个点而获得。()

此题为判断题(对,错)。

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第7题
化学机械平坦化,简称CMP,它是一种表面全局平坦化技术。()

此题为判断题(对,错)。

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第8题
局部平坦化的特点是在一定范围的硅片表?面上实现平坦化,主要技术为()法。

A.旋涂玻璃(SOG)法

B.化学机械抛光CMP法

C.玻璃回流法

D.回刻技术

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第9题
在CMP工艺中,关于磨粒尺寸、浓度及硬度对抛光质量的影响的描述中正确的是()。

A.磨粒硬度增加,抛光速率增加,抛光效果就越好

B.只要磨粒的浓度增加,则材料去除率也一直随之增加

C.通常情况下,当磨粒尺寸增加,抛光速率增加,但磨粒尺寸过小则易凝聚成团,使硅片表面划痕增加

D.当磨粒尺寸增加,抛光速率也随之增加,抛光质量也会随之提高

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第10题
硅片制备过程中 常常采用的定向方法是

A.金刚砂

B.光点定向

C.CMP

D.研磨

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