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[主观题]
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（)
A、前一个缺陷大于后一个
B、后一个缺陷大于前一个
C、两者一样大
D、任意
提问人：网友douliyoutang1
发布时间：2022-07-08
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A.前一个缺陷大于后一个
B.后一个缺陷大于前一个
C.两者一样大
D.两者大小关系不确定
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第1题
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前
一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。
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第5题
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷（)
A、当量相同
B、铸件中的大
C、锻件中的大
D、上述都不对
第8题
纵波直射法探测平板形试件时，如果仪器工作条件和耦合状态良好，试件材质衰减很小，但探伤图形中既无缺陷波又无底波，这是由于试件中存在（）
A.与探测面平行的大缺陷
B.与探测面垂直的大缺陷
C.与探测面倾斜的大缺陷
D.以上都可能
第10题
探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高。（)
A.A.与探测面平行的大平底面
B.B.R200的凹圆柱底面
C.C.R200的凹球底面
D.D.R200的凸圆柱底面
