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[主观题]

扩散掺杂与离子注入掺杂所形成的杂质浓度分布各自的特点是什么?与扩散掺杂相比离子注入掺杂的优势与缺点各是什么?

提问人:网友jiangshaofen 发布时间:2022-01-07
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第1题
通过扩散方式掺杂对杂质浓度和掺杂深度的控制精度比通过离子注入的方式掺杂要高。
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第2题
掺杂浓度分布如下图,请判断对错: [图]A、(a)、(b)是扩...

掺杂浓度分布如下图,请判断对错:掺杂浓度分布如下图,请判断对错:  [图]A、(a)、(b)是扩...掺杂浓度分布如下图,请判断对错

A、(a)、(b)是扩散掺杂,杂质浓度都是余误差分布;

B、(c)是离子注入掺杂,是高斯分布;

C、(a)是限定源扩散掺杂,是余误差分布;(b)是恒定源扩散,是高斯分布;

D、(a)是限定源扩散掺杂,是高斯分布;(b)是恒定源扩散,是余误差分布;

E、(a)、(c) 杂质浓度都是高斯分布;

F、(b)、(c) 杂质浓度都是高斯分布,都是离子注入掺杂。

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第3题
掺杂浓度分布如下图,请判断对错: [图]A、(a)、(b)是扩散...

掺杂浓度分布如下图,请判断对错:掺杂浓度分布如下图,请判断对错: [图]A、(a)、(b)是扩散...掺杂浓度分布如下图,请判断对错

A、(a)、(b)是扩散掺杂,杂质浓度都是余误差分布;

B、(c)是离子注入掺杂,是高斯分布;

C、(a)是限定源扩散掺杂,是余误差分布;(b)是恒定源扩散,是高斯分布;

D、(a)是限定源扩散掺杂,是高斯分布;(b)是恒定源扩散,是余误差分布;

E、(a)、(c) 杂质浓度都是高斯分布;

F、(b)、(c) 杂质浓度都是高斯分布,都是离子注入掺杂。

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第4题
作为掺杂的几种方式中,适合低温工艺并不受固溶度限制的是

A.扩散

B.离子注入

C.合金法

D.生长法

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第5题
PN结是()形成的。

A、将P型和N型半导体掺杂

B、在交界面上,多数载流子分别向对方扩散

C、在交界面上,少数载流子分别向对方扩散

D、多数载流子与少数载流子相互扩散

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第6题
题3-2-8 以下不是集成电路制造工艺中离子注入用途的是 。

A.MOS器件源漏精确掺杂

B.形成浅结

C.调节MOS器件阈值电压

D.形成互连

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第7题
单边突变结的耗尽区主要分布在重掺杂的一侧,最大电场与耗尽区宽度主要取决于低掺杂一侧的杂质浓度。
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第8题
在杂质半导体中,多数载流子的浓度取决于();当杂质浓度一定时,少数载流子的浓度与()有关。

A.掺杂种类

B.掺杂浓度

C.温度

D.电压

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第9题
在杂质半导体中多数载流子的浓度主要取决于杂质浓度,而少数载流子的浓度则与有很大关系()

A.温度

B.掺杂工艺

C.杂质浓度

D.晶体缺陷

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第10题
在杂质半导体中,少数载流子的浓度主要取决于() ,而多数载流子的浓度则与()有很大关系。

A.温度

B.掺杂工艺

C.杂质浓度

D.晶体缺陷

E.空穴

F.自由电子

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