题目内容
(请给出正确答案)
[主观题]
现有3个掺杂砷的n型锗半导体(电离能Ed=0.0127eV),其杂质浓度ND/cm-3分别为5.5E16,1.7E15,1.4E14,画出三者的
现有3个掺杂砷的n型锗半导体(电离能Ed=0.0127eV),其杂质浓度ND/cm-3分别为5.5E16,1.7E15,1.4E14,画出三者的logn-1/T曲线。
提问人:网友anonymity
发布时间:2022-01-06
现有3个掺杂砷的n型锗半导体(电离能Ed=0.0127eV),其杂质浓度ND/cm-3分别为5.5E16,1.7E15,1.4E14,画出三者的logn-1/T曲线。
(1) 将含有杂质P的硅晶体提纯到杂质浓度ND=1012cm-3,估算此半导体中本征区和饱和区、饱和区与冻结区的交界温度。(2) 将含有杂质P的硅晶体重掺杂到ND=1019cm-3,估算此半导体中本征区和饱和区、饱和区与冻结区的交界温度。
若在n型硅半导体中只含有一种V族杂质,其浓度为ND=1015cm-3。在40K的时候,测得载流子浓度为n=1012cm-3,估算这个n型硅半导体的电离能Ed。
根据杂质电离能计算有效质量
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Cu2O材料的能隙与GaP或3C-SiC相当,为什么GAP或3C-SiC是半导体材料,而Cu2O就不是?
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