题目内容 (请给出正确答案)
[单选题]

理想理想结构必须满足的条件有()结构必须满足的条件有()

A.金属与半导体的功函数差为零

B.绝缘层内没有任何电荷且绝缘层完全不导电

C.绝缘层与半导体界面处不存在任何界面态

D.半导体必须为本征半导体

E.绝缘层材料为二氧化硅

提问人:网友webluomu 发布时间:2022-01-07
参考答案
查看官方参考答案
如搜索结果不匹配,请 联系老师 获取答案
网友答案
查看全部
  • · 有3位网友选择 B,占比33.33%
  • · 有2位网友选择 A,占比22.22%
  • · 有2位网友选择 D,占比22.22%
  • · 有2位网友选择 C,占比22.22%
匿名网友 选择了A
[61.***.***.206] 1天前
匿名网友 选择了D
[112.***.***.96] 1天前
匿名网友 选择了A
[61.***.***.206] 1天前
匿名网友 选择了B
[181.***.***.163] 1天前
匿名网友 选择了D
[112.***.***.96] 1天前
匿名网友 选择了B
[235.***.***.134] 1天前
匿名网友 选择了B
[14.***.***.2] 1天前
匿名网友 选择了A
[72.***.***.85] 1天前
匿名网友 选择了D
[83.***.***.119] 1天前
匿名网友 选择了C
[121.***.***.192] 1天前
匿名网友 选择了C
[77.***.***.93] 1天前
匿名网友 选择了B
[181.***.***.163] 1天前
匿名网友 选择了B
[181.***.***.163] 1天前
匿名网友 选择了D
[112.***.***.96] 1天前
匿名网友 选择了B
[235.***.***.134] 1天前
匿名网友 选择了B
[14.***.***.2] 1天前
匿名网友 选择了A
[72.***.***.85] 1天前
匿名网友 选择了D
[83.***.***.119] 1天前
匿名网友 选择了C
[121.***.***.192] 1天前
匿名网友 选择了C
[77.***.***.93] 1天前
加载更多
提交我的答案
登录提交答案,可赢取奖励机会。
更多“理想[图]结构必须满足的条件有()A、金属与半导体的功...”相关的问题
第1题
在理想情况下,金属和半导体接触,如何形成欧姆接触?()
A、金属和n型半导体接触,形成电子的反阻挡层,即为欧姆接触

B、金属和p型半导体接触,形成空穴的反阻挡层,即为欧姆接触

C、金属和n型半导体接触,形成电子的阻挡层,即为欧姆接触

D、金属和p型半导体接触,形成空穴的阻挡层,即为欧姆接触

点击查看答案
第2题
理想的MIS结构在外加偏压的作用下,半导体表面可能形成的状态有?()
A、多子积累

B、多子耗尽

C、平坦能带

D、本征状态

E、少子反型

F、少子积累

G、少子耗尽

点击查看答案
第3题
1. 实际半导体与理想半导体间的主要区别是什么
点击查看答案
第4题
以下关于“本征半导体”与“杂质半导体”的描述正确的是()。
A、纯净无杂质、结构理想无缺陷的半导体是本征半导体

B、实际的半导体材料总是存在杂质和缺陷的,只要杂质和缺陷在一定限度内,就可看作是本征半导体

C、本征半导体掺入杂质可形成杂质半导体

D、本征半导体掺入施主杂质可形成n型半导体,掺入受主杂质可形成p型半导体

E、n型半导体依靠导带电子导电

F、p型半导体依靠价带空穴导电

G、本征半导体中载流子由本征激发产生

H、本征半导体中导带电子浓度等于价带空穴浓度

I、施主杂质电离可以为半导体提供导电电子

J、受主杂质电离可以为半导体提供导电空穴

K、杂质半导体中载流子主要靠杂质电离产生

L、杂质半导体中也存在本征激发的过程

点击查看答案
第5题
以下关于理想MOS结构的说法中,正确的是()。
A、不考虑Si-SiO2界面的结构

B、不考虑金属和半导体之间的功函数之差

C、金属和半导体之间不会通过SiO2层交换电子

D、都正确

点击查看答案
第6题
真空中有两个平行的无限大均匀带正电平面,电荷面密度分别为。如图所示,两平面之间的A、B两点的电势分别为,则       

A、

B、

C、

D、无法比较的高低。

点击查看答案
第7题
直径为多少的眶内铁质异物平片可显示()

A. 1mm以上

B. 0.5mm以上

C. 0.8mm以上

D. 1.2mm以上

E. 0.3mm以上

点击查看答案
第8题
对于实际的MIS结构,哪些因素会影响MIS结构的C-V特性曲线,使曲线相较于理想MIS结构的C-V特性曲线发生偏移?()
A、金属和半导体之间存在功函数差

B、绝缘层中存在电荷

C、半导体与绝缘层的界面处存在表面态

D、外加偏压

点击查看答案
第9题
对于理想的MIS结构,在外加偏压作用下,半导体表面从多子积累状态到多子耗尽状态的过渡状态是?()
A、平坦能带状态

B、少子反型状态

C、深耗尽状态

D、本征状态

点击查看答案
第10题
对于理想的MIS结构,在外加偏压作用下,半导体表面多子浓度比体内多子浓度高时,处于哪种状态?()
A、多子积累

B、少子积累

C、多子耗尽

D、少子反型

点击查看答案
账号:
你好,尊敬的用户
复制账号
发送账号至手机
密码将被重置
获取验证码
发送
温馨提示
该问题答案仅针对搜题卡用户开放,请点击购买搜题卡。
马上购买搜题卡
我已购买搜题卡, 登录账号 继续查看答案
重置密码
确认修改
欢迎分享答案

为鼓励登录用户提交答案,简答题每个月将会抽取一批参与作答的用户给予奖励,具体奖励活动请关注官方微信公众号:简答题

简答题官方微信公众号

警告:系统检测到您的账号存在安全风险

为了保护您的账号安全,请在“简答题”公众号进行验证,点击“官网服务”-“账号验证”后输入验证码“”完成验证,验证成功后方可继续查看答案!

微信搜一搜
简答题
点击打开微信
警告:系统检测到您的账号存在安全风险
抱歉,您的账号因涉嫌违反简答题购买须知被冻结。您可在“简答题”微信公众号中的“官网服务”-“账号解封申请”申请解封,或联系客服
微信搜一搜
简答题
点击打开微信