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[单选题]

下列不属于提高MOS管特征频率方法的是()。

A.采用应力工程,提高载流子迁移率

B.提高跨导

C.增加沟道长度

D.减小栅围寄生电容

提问人:网友曾深鑫 发布时间:2022-01-07
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[134.***.***.104] 1天前
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[186.***.***.106] 1天前
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[247.***.***.184] 1天前
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[0.***.***.25] 1天前
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[124.***.***.1] 1天前
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[232.***.***.65] 1天前
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[154.***.***.148] 1天前
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[155.***.***.194] 1天前
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第1题
下列不属于提高MOS管特征频率方法的是()。

A.采用应力工程,提高载流子迁移率

B.提高过驱动电压

C.增加沟道长度

D.减小栅围寄生电容

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第2题
提高载流子迁移率的方法是()。

A.减小载流子有效质量

B.增加载流子有效质量

C.减小散射

D.增加散射

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第3题
下列哪些不属于计算MOS管最高振荡频率的非理想因素()。

A.小尺寸器件沟道长度采用栅极长度计算

B.晶格散射导致的载流子迁移率退化

C.小尺寸器件中的纵向电场

D.栅漏电容的米勒效应

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第4题
要提高MOSFET的跨导,需要()沟道长度和栅氧化层厚度。
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第5题
()不能提高MOSFET频率特性

A.缩短沟道长度

B.减小氧化层厚度

C.使用高迁移率沟道材料

D.采用自对准多晶硅栅

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第6题
下列哪项在计算MOS管最高振荡频率时,可以不考虑()。

A.小尺寸器件沟道长度与栅极长度并不完全相等

B.晶格散射导致的载流子迁移率退化

C.小尺寸器件中的纵向电场

D.栅漏电容的米勒效应

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第7题
以下哪些措施可以增大MOSFET的饱和区漏极电流:()。

A.增加沟道长度

B.减小栅氧化层厚度

C.减小沟道宽度

D.提高阈值电压

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第8题
下列哪项在计算MOS管最高振荡频率时,可以不考虑()。

A.小尺寸器件沟道长度与栅极长度并不完全相等

B.晶格散射导致的载流子迁移率退化

C.小尺寸器件中的纵向电场

D.栅漏电容的米勒效应

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第9题
减小载流子有效质量与减小散射可以提高载流子迁移率。
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第10题
下面有关MOS管的说法正确的是()

A.MOS晶体管的电学本质:电流控制电压源

B.MOS器件的最高工作频率与其沟道长度的平方成正比,增大沟道长度L可有效地提高工作频率

C.MOS管本征寄生电容有三个来源,分别是:栅至沟道的电容,基本MOS结构电容(覆盖电容),结电容

D.NMOS传输门传输低电平有阈值损失,PMOS传输门传输高电平有阈值损失

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