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[主观题]

离子注入层的深度主要取决于离子注入的()。A.能量B.剂量

离子注入层的深度主要取决于离子注入的()。

A.能量

B.剂量

提问人:网友zhangwe2019 发布时间:2022-01-06
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第1题
离子注入层的杂质浓度主要取决于离子注入的()。A.能量B.剂量

离子注入层的杂质浓度主要取决于离子注入的()。

A.能量

B.剂量

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第2题
在实际工作中,常常需要知道离子注入层内损伤量按()的分布情况。

A.长度

B. 深度

C. 宽度

D. 表面平整度

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第3题
离子注入能够重复控制杂质的浓度和深度,因而在几乎所有应用中都优于扩散。()
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第4题
关于离子注入掺杂,说法正确的有()

A.离子注入对半导体晶格没有损伤

B.离子注入利用电场来控制离子的注入深度

C.离子注入利用磁场来筛选注入的离子

D.将半导体晶片偏转一定的角度可以避免离子注入遇到的沟道效应

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第5题
通过扩散方式掺杂对杂质浓度和掺杂深度的控制精度比通过离子注入的方式掺杂要高。
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第6题
离子注入法掺杂工艺通常无法精确控制掺杂深度()
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第7题
离子注入前一般需要先生长氧化层,其目的是什么?

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第8题
离子注入前一般需要先生长氧化层,其目的是什么?
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第9题
以下关于离子注入优点的选项中,()的说话是错误的。

A.离子注入能够重复控制杂质的浓度和深度,因而在几乎所有应用中都优于扩散。

B.横向扩散现象很小

C.很好的杂质均匀性

D.注入杂质的纯度高,属于低温工艺

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第10题
对于非晶靶,离子注入的射程分布取决于()。

A.入射离子的能量

B. 入射离子的质量

C. 入射离子的原子序数

D. 靶原子的质量、原子序数、原子密度

E. 注入离子的总剂量

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