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[主观题]

如果外延速率偏低,只要增大外延气体中硅源(如SiCl4)浓度,硅的气相外延速率就会增加。

提问人:网友renxueyu 发布时间:2022-01-07
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第1题
外延工艺就是在晶体衬底上,用物理的或化学的方法生长 薄膜。
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第2题
VPE制备n-/n+ -Si用硅烷为源,硅烷是在 完成的分解。 可从下面选择: 气相 硅片表面 n-/n+Si界面
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第3题
通常掩膜氧化采用的工艺方法为:

A、掺氯氧化

B、干氧

C、干氧-湿氧-干氧

D、低压氧化

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第4题
关于氧化速率下面哪种描述是正确的:

A、生长非常薄(<十几nm)的栅氧化层时,氧化速率服从线性规律>

B、温度升高氧化速率迅速增加

C、(111)硅比(100)硅氧化得快

D、有杂质(如Na、P等)存在,氧化速率降低

E、生长的氧化层较薄时,氧化速率服从线性规律

F、生长的氧化层较厚时,氧化速率服从线性线规律

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第5题
制作一硅晶体管芯片,在最后用热氧化方法制备了一层SiO2作为保护层。
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第6题
热氧化速率快慢排序: 氧化最快、 氧化次之、 氧化最慢。 (从“干氧、湿氧、水汽”中选择填空,中间用“、”隔开)
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第7题
热氧化过程中杂质在SiO2/Si界面的浓度是突变的,这是由杂质 引起的。(两个字)
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第8题
[图]A、图(a)是限定源扩散,图(b)恒定源扩散B、图(a)、(b)...

A、图(a)是限定源扩散,图(b)恒定源扩散

B、图(a)、(b)都是限定源扩散

C、图(a)、(b)都是恒定源扩散

D、图(a)是恒定源扩散,图(b)限定源扩散

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第9题
扩散掺杂,扩散区要比掩膜窗口尺寸 ,这是 效应引起的,它直接影响超大规模集成电路的集成度。

A、大,横向扩散

B、小,横向扩散

C、大,场助扩散

D、大,氧化增强

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第10题
扩散系数在何时不可以看成是常数:

A、在中等浓度p型硅上扩散掺入n型杂质;

B、在重掺杂p型硅上扩散掺入n型杂质;

C、在本征硅上扩散掺入中等浓度的杂质硼。

D、在本征硅上扩散掺入高浓度的杂质硼,同时进行氧化。

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